营口金属硅分析仪服务周到「英飞思科学」 [英飞思科学)66089b4]"内容：·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。·可以在显示荧幕上观看光谱。·通过对比光谱进行对比分析，显示出分析结果，分析结果将反映是否符合相应标准的情况。·通过更新参数或更换模式，可以利用存储的试验结果再次进行新的试验。·资料安全性：资料以二进位格式存储于设备中，以保证资料的完整性。可检测标准元素：铅、铬、、、镉、锑、氯、磷、钛、锰、铁、镍、铜、锌、铋、锡、银。
分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。
岩石是矿物的集合体，是各种地质作用的产物，是构成地壳的物质基础。矿物是在各种地质作用中形成的天然单质或化合物，通常由像钙、镁、钠、铝、钡、铁、锌等多种元素组成。通过仪器测试可以得到所含元素及各个元素的含量。有部分矿石因需要提取的矿物量较低（ppm级---百万分之一，如：5-10ppm金矿），通过简单的测试无法准确判定含量的多少，轻便矿石分析仪也只能做半定量分析。这就需要高精度的分析手段---原子吸收光谱仪。
X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。当高能电子束照射样品（靶材）时，入射高能电子被样品中的电子减速，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。
以上信息由专业从事金属硅分析仪的英飞思科学于2024/4/20 8:53:54发布
转载请注明来源：http://yingkou.mf1288.com/szyfskx-2738594681.html
上一条：营口柔性led显示屏生产询问报价 捷影未来
下一条：营口颗粒果壳活性炭厂值得信赖「龙口鑫奥活性炭」
